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2,004
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1241.
Study on the photocathode deterioration mechanism by residual gas in the MCP-PMT (in Japanese)
/
Genta Muroyama
[BELLE2-MTHESIS-2019-013]
Presented on 08 02 2018
MSc
2018
Nagoya university
/ Nagoya
フレーバー物理などにおいて崩壊粒子の識別は親粒子の情報を知るために重要である。粒子識別 の方法としてシンチレーション光やチェレンコフ光を用いるものがあり、その識別能力の向上に は光検出器の高い性能が必要になる。Micro-Channel-Plate (MCP)-PMT は高い時間、位置分解 能を持ち、これらの要求を満たす光検出器である。しかし、一般的なPMT に比べて光電面の量子 効率(QE) の低下が早く、寿命が短いという欠点がある。積算出力電荷に応じてQE は低下するた め、高頻度衝突実験において長期間使用する際に問題となる。 光電面のQE 低下の原因として、MCP 上に吸着した残留ガスが挙げられる。それらは増幅過程 の電子と衝突し中性ガスやイオンとなり、QE を低下させていると考えられている。我々はBelle II 実験でチェレンコフ光を利用した粒子識別装置TOP カウンターでMCP-PMT を使用するため、 長寿命化の研究を行ってきた。ガスの吸着防止にMCP にAtomic Layer Deposition (ALD) を施 すなどの対策を行いBelle II 実験の5 年間の物理ランで使用可能なMCP-PMT を開発した。量産 品の寿命の個体差が約50 % あるため、他実験への応用を踏まえると効率的な寿命対策により個体 差を抑え、かつ長寿命なMCP-PMT を生産する必要がある。そのため、私は理解が不十分なQE 低下メカニズムの解明を目指した。 私はイオンの種類、量およびそのエネルギーに着目し、これを調べた。イオンはMCP から放出 されると光電面へと衝突するまで電場によって加速する。その際のエネルギーは1 keV 程度であり PMT の印加電圧に依存するため、これを変化させることでその影響を調べることができる。イオ ンの種類と量はアフターパルスを利用し測定した。これはイオンが光電面に到達した際に放出する 二次電子による信号であり、イオンの質量に依存した時間差を伴ってやってくる。この時間差と頻 度の測定からイオンの種類と量が同定できる。私はアフターパルス測定システムを構築し、ALD 寿命対策によるイオンの種類と量の変化を調べた。またイオンのエネルギーの変化と寿命の相関を 直接調べるため、PMT の印加電圧を変化させて寿命測定を行えるように測定ベンチに改良を施し た。さらに残留ガス対策のためMCP 上にあるAl 薄膜を取り除いたPMT を作成し、Al 薄膜の有 無によるイオンの変化や寿命の変化を調べた。 アフターパルスの測定結果から、ALD 未対策品では主にH+ とHe+ が確認された。ALD 対策 品ではH+ が約50 %、He+ が約25 %に減少していたが新たにH2O+ が確認された。膜無し品 ではH+ 、He+ やH2O+ は膜有り品と同様の分布を示したが、新たにAl 膜で阻止されていた重 いイオンとみられるものが確認された。これらのイオンのうち、He+ は光学窓の石英ガラスを透 過する性質があること、H2O+ は長寿命のALD 対策品でのみ確認されることからQE 低下には ほとんど寄与していないと考えられる。寿命測定の結果、膜無しPMT の寿命は同タイプの膜有り 品に比べて短いことから、Al 膜により阻止されていた重いイオンや中性ガスが光電面のQE 低下 を引き起こしている可能性がわかった。 本研究でMCP-PMT 内部のイオンの分布を調べる測定システムを構築することができ、光電面 寿命低下に対してHe+ 、H2O+ は寄与しないことがわかった。
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1242.
Performance study on Belle II TOP counter (in Japanese)
/
Noritsugu Tsuzuki
[BELLE2-MTHESIS-2019-012]
Presented on 08 02 2018
MSc
2018
Nagoya university
/ Nagoya
Belle II 実験は2018 年に電子・陽電子衝突を開始する。同実験は2024 年までにB 中間子対を約50 億ペア生成し、稀崩壊事象の精密測定から新物理を探索する。崩壊過程を正しく再構成するには終状 態での粒子の種類を識別する必要がある。我々は新型の粒子識別装置TOP カウンターを導入し、特 に荷電K/ 中間子に対して、前身のBelle 実験よりも高い識別効率を目指す。 TOP カウンターは石英輻射体とその1 つの端面に取り付けた光検出器(PMT)、及び信号読み出し 回路から構成される。荷電粒子は石英輻射体を通過する際、チェレンコフ光を放出する。そのうち約 20 光子は石英内部を伝搬後にPMT で検出できるので、読み出し回路でその検出位置と時間を記録す る。荷電粒子の質量によって光子の検出パターンが異なることを用いて粒子識別を行う。 2016 年5 月にTOP カウンターのBelle II 検出器へのインストールが完了したので、次は期待して いる識別能力を発揮できると実証したい。具体的には、光子検出に約50 ps の時間分解能を持ち、光 子が検出面まで正しく伝搬することを確かめる。私はレーザー光試験、宇宙線試験を行い、これらを 検証した。 まずはパルスレーザーの光子で時間分解能を調べた。その結果は約100 ps と不十分であったので、 読み出し回路での信号波形をシミュレーションで再現し、原因を考察した。それにより波形解析に関 数フィットを用いれば80 ps まで改善すること、波形サンプリング時の電荷増幅率が非一様になってい たことが時間分解能を悪化させることを突き止めた。 次に、石英とPMT、及び石英同士の接着について調べた。前者は磁場試験の際にいくつか剥がれが 発見されたため、後者はインストール作業などで剥がれが起きていないと確かめるため、検証が必要 である。光子が剥がれ箇所を通過すると、約4 割が反射してしまう。レーザー光での光子検出率を磁場 試験の前後で比較した結果、512 個中24 個のPMT に接着剥がれの兆候を見た。また、チェレンコフ 光子の伝搬経路を計算することで、石英間の接着剥がれの割合を20%程の誤差で測定できる手法を開 発した。これを宇宙線データに適用した結果、有意な石英接着の剥がれは検出されなかった。よって、 少なくとも90%の光子は正常に伝搬しており、期待するTOP カウンターの識別性能のうち95%以上 は発揮できると保証した。
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1243.
Installation of Belle II TOP counter and study on the mechanical characteristics under the magnetic field (in Japanese)
/
Raita Omori
[BELLE2-MTHESIS-2019-011]
Presented on 08 02 2018
MSc
2018
Nagoya university
/ Nagoya
Belle II 実験は電子・陽電子を衝突させてB 中間子対を生成し、その終状態の精密測 定から新物理の観測・解析を行う。Belle II 実験では前身のBelle 実験の50 倍となる50 ab1 のデータを収集する。B 中間子の精密測定にはその崩壊過程に含まれるK 中間子と 中間子の識別が重要となる。我々は新型粒子識別装置TOP (Time Of Propargation) カウンターを開発・導入し、運動量3 GeV/c 以上のK= 中間子に対して95 %以上の識 別効率と、5 %以下の誤識別率を目指す。 TOP カウンターは粒子ごとのチェレンコフ光の放出角の違いによる、光子検出時間差 を利用した粒子識別装置である。その構造は、TOP カウンターの大部分を占めるチェレ ンコフ光を伝搬する石英輻射体と、その片側の端面に取り付けられる角形光検出器MCP (Micro Channel Plate) -PMT からなる。MCP-PMT は4 個を1 組のPMT モジュールと して組み上げてTOP カウンターに導入される。K= 中間子の光子検出時間差はO (100 ps) であり、光子検出時間のわずかなズレが識別効率に大きな影響を与える。TOP カウ ンターの性能は石英輻射体での光子伝搬時間と、光検出器の光子検出数によって決まる。 私はこの2 点に対して機械的側面から研究を行い、TOP カウンターに要求される性能の 実現にむけて成果を上げた。 光子伝搬時間に影響を与える機械的要因として、TOP カウンターの歪みがあげられ る。TOP カウンターが歪むと内部の石英輻射体が歪んでしまい、チェレンコフ光の伝搬 光路に変化が生じるため光子検出時間や検出するチャンネルに狂いが生じ、正確な粒子 識別ができなくなる。これを防ぐために我々はTOP カウンターの製造時からBelle II 検 出器へのインストール後まで、TOP カウンターが歪まないように細心の注意を払った。 TOP カウンターの変形を防ぐために、支持構造体をTOP カウンターに取り付け、さら にベッセル点という物体の歪みが最小になる2 点で支持しながらインストールできるよ うに、専用の治具を設計、製作した。特に私はTOP カウンターのBelle II 検出器への インストール開始から終了までの歪みの変化をストレインゲージとダイアルゲージを用 いてリアルタイムでの測定を行い、光子検出に影響を与えるような歪みがないことを確 認した。インストール後のTOP カウンターは両端でBelle II 検出器に固定されるほか、 両脇で両隣のTOP カウンターと連結され、自重での変形を防ぐ。 Belle II 検出器へのインストール後に磁場中でのTOP カウンターの動作試験を行っ たところ、TOP カウンター内部でMCP-PMT が磁場の影響を受けて回転してしまい、 光子検出が数%低下している領域があることが確認された。これを防ぐためにPMT モ ジュールの補修が予定されたが、MCP-PMT の個数や補修が可能な期間の短さから迅速 かつ確実な手段が求められた。私はダミーのMCP-PMT を用いたPMT モジュールを作 成し、MCP-PMT をPMT モジュールの中でより強固に固定する手段を模索した。それ らのPMT モジュールに対して長期に負荷をかける試験やBelle II 実験の時と同様の磁 場をかける試験を行い、MCP-PMT の磁場中での回転を防ぐ手法を確立した。 本研究により、TOP カウンターの粒子識別の識別効率を下げる機械的要因を実験開 始前に取り除くことができた。この成果はTOP カウンターが目指す識別効率を実現す ることにつながる。
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1244.
Alignment and timing calibration of Belle II TOP counter (in Japanese)
/
Satoshi Senga
[BELLE2-MTHESIS-2019-010]
Presented on 14 02 2019
MSc
2019
Nagoya university
/ Nagoya
Belle II 実験は電子・陽電子を衝突させ、B 中間子や 粒子などの崩壊を精密に測定することで、 標準理論では説明できない新物理の発見を目指している。これらの事象を精密に再構成するために は、終状態に多く含まれる=K 中間子の正確な識別が必要である。私たちは粒子識別装置として Time-Of-Propagation (TOP) カウンターを開発し、Belle II 検出器のバレル部分に全16 モジュー ルインストールした。TOP カウンターは、石英輻射体とその片側端面に設置したPMT からなる リングイメージ型チェレンコフ検出器である。荷電粒子が石英を通過するとチェレンコフ光が放出 され、PMT によって光子の検出位置・時間情報が測定される。 粒子識別は、荷電粒子の運動量と入射位置を使って予想検出位置・時間分布を計算し、粒子の 種類を仮定したときの尤度を比較することで行う。したがって、識別能力はTOP カウンターの設 置位置と時間原点に依存し、位置・時間較正が必要となる。較正目標精度は、積分ルミノシティ 50 ab1 に相当する統計量のB ! とB ! K の2 モードを使い、理想的な位置・時間のとき に対して=K の識別個数が有意に変化しない範囲とし、位置2-5 mm、角度1-3 mrad、時間10 ps 以内を目指すこととした。 TOP カウンターの位置・時間較正として、まずモジュール間の時間を合わせるために、宇宙線事 象を利用した。チェレンコフ光子の検出情報から宇宙線がモジュールに当たった時間を推定し、2 モジュール間の時間差が飛行時間と等しくなるように較正した。シミュレーションでこの手法が次 の較正に必要な精度で較正できることを確認した。実際のデータに適用したところ、最大で1.5 ns のずれを較正することに成功し、またレーザーによる結果と一致することが確認できた(図1)。 次に、e+e ! + 事象を用い、 粒子仮定の尤度が最大になるように、位置・時間を較正す る手法を確立した。まず理想的な位置・時間の下でこの手法をシミュレーションで試験したとこ ろ、最大で位置2 mm、角度1 mrad、時間1 ps のバイアスを持っていたが、いずれも目標精度内 であることが確認できた。また、位置・時間をずらした状態でも同様の試験を行ったところ、一定 のバイアスを保ったまま正しい値を得られ、この手法が正しく動作することが確認できた。また、 本手法を実データに手法に用いることで、データ取得中に時間が変動しているという問題を新たに 明確にした(図2)。
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1245.
Evaluation of PID performance and mass resolution of Belle II detector for hadron spectroscopy (in Japanese)
/
Hikaru Hirata
[BELLE2-MTHESIS-2019-009]
Presented on 14 02 2019
MSc
2019
Nagoya university
/ Nagoya
近年、重いクォークを含むバリオンやエキゾチックハドロンの候補が数多く発見されており、 チャームバリオンにおけるダイクォーク描像の検証やエキゾチックハドロンの内部構造を理解する ことはハドロン内部のクォーク束縛に関する新たな知見となる。X(3872) はエキゾチックハドロ ンの候補の一つであり、内部構造は未解明である。私はこのX(3872) の性質を網羅し、内部構造 を複眼的に検証できるようX(3872) の崩壊幅を測定する。 X(3872) の崩壊幅は非常に小さく、Belle 実験によりその上限は1.2 MeVと決定されている。Belle II 実験は電子陽電子衝突型B ファクトリー実験であり、先行研究の約50 倍のB 中間子事象のデー タを取得予定である。したがって本実験では、先行研究で使用されていたX(3872) ! J= + 崩壊より、信号事象数は少ないものの質量分解能が良いX(3872) ! D0 D 00 崩壊を用いて感度を 向上させることができる。私は本実験環境下でX(3872) ! D0 D 00 崩壊をシミュレーションし、 X(3872) の崩壊幅の統計的な感度を見積もった。その結果、本測定は先行研究と比較して信号事 象数は半分程度であるが、質量分解能は約3 倍良いことを明らかにし、本実験で収集予定の全デー タ(50 ab 1 ) を用いれば崩壊幅の上限値を約180 keV まで向上させられる可能性があることを示 した(図1)。 ただし、本実験は立ち上げ段階であり、ハドロン分光の研究を遂行するためには、初期衝突デー タを用いて測定器の性能を理解しなければならない。したがって本研究では、崩壊幅測定に重要な 質量分解能とチャームバリオン分光に重要な陽子識別性能を実データを用いて評価した。質量分解 能の評価では、D0 中間子の荷電粒子のみで再構成できる崩壊過程を用いた。その結果、実データ での質量分解能はシミュレーションのものよりも約10%程度悪いことがわかった。また、陽子識別 性能評価では、 バリオンの再構成・選別方法と陽子識別効率・誤識別率を導出する手法をシミュ レーションを用いて開発し、それらが真の値を2%の精度で再現できることを示した。この手法 を用いて実データを解析した結果、実データとシミュレーションでは誤識別率は一致しているのに 対し、陽子識別効率の運動量依存性に違いがあることがわかった(図2)。 本研究で行なった性能評価結果を飛跡検出器や粒子識別装置の較正へと役立たせ、性能評価と較 正を繰り返すことで性能を十分に発揮させることが可能である。さらに、本研究によりこれらの性 能が十分に発揮できれば、本実験で世界初となる有意なX(3872) の崩壊幅測定といったハドロン 分光が実現可能となる。
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Performance tuning of photon sensor and readout electronics and evaluation of photon detection efficiency for Belle II TOP counter (in Japanese)
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Rikuya Okuto
[BELLE2-MTHESIS-2019-008]
Presented on 14 02 2019
MSc
2019
Nagoya university
/ Nagoya
Belle II 実験ではe+e 衝突から生じるB 中間子対を500 億事象という世界最高統計量で収集し、その 希崩壊過程を精密に測定することで標準模型を超える新事象の探索を行う。重いB 中間子崩壊の終状態に 多く含まれる比較的軽いK/ 中間子の識別を高い効率で行う必要があるため、我々は新型粒子識別装置 Time-Of-Propagation (TOP) カウンターを導入し、識別効率95% 以上、誤識別率5% 以下での識別を目指す。 TOP カウンターは石英輻射体とその端面に取り付けた光検出器Micro-Channel-Plate (MCP) -PMT で構 成されている。石英輻射体K= が通過する際に異なる放出角で発生するチェレンコフ光子を光検出器で20 個 程度検出し、その検出時間・位置情報を用いて粒子識別を行う。この際検出光子を10% 損失すると1{2% 程 度識別効率が低下してしまうので、識別性能最大化のために光子数の十分な確保が重要となる。 光子検出システムを構成する読み出し回路とMCP-PMT の性能は個別にテストベンチで精査されてきた。 次の段階の研究として私はインストール後の性能評価と光子検出システム全体の調整を行った。さらに初衝突 運転データを用いてTOP カウンターの光子検出能力を包括的に評価した。 光子検出能力の主な要素は、読み出し回路単体の読み出し効率と、MCP-PMT の増幅率及び閾値で決まる信 号弁別効率である。まず、疑似信号を用いて読み出し効率を評価し、これが74{80% であることを示した。さ らに、この非効率は読み出し回路上の信号判定機構に起因することを指摘し、それを受けた改善によって読み 出し効率を最大100% にできることを示した。次に、1 光子レベルに減光したレーザーを用いてMCP-PMT の増幅率を調整し、信号弁別効率の目標90% 以上を全MCP-PMT で実現した(図1)。 最後に、初衝突運転データに含まれるe+e ! + 事象でのTOP カウンターの検出光子数分布をシミュ レーションと比較し、本研究で評価した効率の影響を省いた場合に平均光子数が8{20% の範囲で一致してい ることを示した(図2)。また、 粒子の入射角度・位置などの条件に対しては期待通りに応答していることを 示した。 本研究により、光子検出の観点で衝突運転時のTOP カウンターの性能を評価し、課題を分析することがで き、目標の粒子識別性能の実現につながった。
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